涂層測(cè)厚儀探頭

		涂層測(cè)厚儀F1探頭 工作原理：磁感應(yīng) | 分辨力：0.1um 測(cè)量范圍：0-1250um 示值誤差：        1、一點(diǎn)校準(zhǔn)：±[3%H+1]um        2、兩點(diǎn)校準(zhǔn)：±[(1～3)%H+1]um 測(cè)量條件:        1、最小曲率半徑：凸1.5mm        2、基體最小面積的直徑：Ф7mm        3、最小臨界厚度：0.5mm 探頭尺寸：Ф12X47mm
		涂層測(cè)厚儀N1探頭 工作原理：電渦流 | 分辨力：0.1um 測(cè)量范圍：0-1250 | 銅上鍍鉻0-40um 示值誤差：        1、一點(diǎn)校準(zhǔn)：±[3%H+1]um        2、兩點(diǎn)校準(zhǔn)：±[(1～3)%H+1]um 測(cè)量條件:        1、最小曲率半徑：凸3mm        2、基體最小面積的直徑：Ф5mm        3、最小臨界厚度：0.3mm 探頭尺寸：Ф15X73mm

F1探頭是磁性法測(cè)量的通用標(biāo)準(zhǔn)探頭，測(cè)量范圍0-1250um，基本覆蓋大部分涂層厚度范圍.

N1探頭是渦流法測(cè)量的通用標(biāo)準(zhǔn)探頭，測(cè)量范圍0-1250um，基本覆蓋大部分涂層厚度范圍.

		涂層測(cè)厚儀F400探頭 工作原理：磁感應(yīng) | 分辨力：0.1um 測(cè)量范圍：0-400um 示值誤差：        1、一點(diǎn)校準(zhǔn)：±[3%H+1]um        2、兩點(diǎn)校準(zhǔn)：±[(1～3)%H+0.7]um 測(cè)量條件:        1、最小曲率半徑：凸1mm        2、基體最小面積的直徑：Ф3mm        3、最小臨界厚度：0.2mm 探頭尺寸：Ф12X55mm
		涂層測(cè)厚儀F10探頭 工作原理：磁感應(yīng) | 分辨力：10um 測(cè)量范圍：0-10000um 示值誤差：        1、一點(diǎn)校準(zhǔn)：±[1%H+1]um        2、兩點(diǎn)校準(zhǔn)：±[(1～3)%H+10]um 測(cè)量條件:        1、最小曲率半徑：凸10mm        2、基體最小面積的直徑：Ф10mm        3、最小臨界厚度：2mm 探頭尺寸：Ф27X47mm

     F400為選配探頭，主要用于較薄厚度的涂層測(cè)量，可獲得更精準(zhǔn)的測(cè)量結(jié)果和更高的重復(fù)性，另外在管材基體直徑較小或者被測(cè)區(qū)域接觸面積較小時(shí)，F(xiàn)400探頭也是較好的選擇。

     F10為選配探頭，測(cè)量范圍由標(biāo)配的0-1250um擴(kuò)展至0-10000um，主要用于大厚度的涂層測(cè)量。選配F10探頭還應(yīng)增配2000um、4000um、8000um的標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)片，用于校準(zhǔn)儀器。

		涂層測(cè)厚儀F1|90探頭 工作原理：磁感應(yīng) | 分辨力：0.1um 測(cè)量范圍：0-1250um 示值誤差：        1、一點(diǎn)校準(zhǔn)：±[3%H+1]um        2、兩點(diǎn)校準(zhǔn)：±[(1～3)%H+1]um 測(cè)量條件:        1、最小曲率半徑：平直        2、基體最小面積的直徑：Ф7mm        3、最小臨界厚度：0.5mm 探頭尺寸：Ф7.5X11X200mm
		涂層測(cè)厚儀CN02探頭 工作原理：電渦流 | 分辨力：1um 測(cè)量范圍：10-200um 示值誤差：        1、一點(diǎn)校準(zhǔn)：±[3%H+1]um        2、兩點(diǎn)校準(zhǔn)：— 測(cè)量條件:        1、最小曲率半徑：平直        2、基體最小面積的直徑：Ф7mm        3、最小臨界厚度：無(wú)限制 探頭尺寸：Ф16X67mm

     F1/90為選配探頭，主要用于管材內(nèi)壁的涂層厚度測(cè)量。它細(xì)長(zhǎng)的身形可以輕松的深入其它探頭無(wú)法到達(dá)的細(xì)管中；對(duì)于夾層和細(xì)縫中的涂層厚度也能很好的測(cè)量。

     CN02為選配探頭，主要用于測(cè)量線路板上的銅箔厚度，檢測(cè)范圍在10-200um之間。